Je leest:

Meting van materiaalhechting leidt tot duurzamere displays

Meting van materiaalhechting leidt tot duurzamere displays

De Eindhovense onderzoeker Olavio Dos Santos Ferreira heeft een methode ontwikkeld om de hechting van metaalfilms op anorganische materialen te meten. Zijn onderzoek, uitgevoerd met steun van de Technologiestichting STW, leverde een verbeterd meetinstrument op en is bovendien relevant voor de duurzaamheid van displays. Dos Santos Ferreira promoveerde 21 maart jongstleden aan de Technische Universiteit Eindhoven.

Metaalfilms verzorgen de stroomvoorziening en aansturing van displays, zoals van laptops of zonnecellen. Na verloop van tijd laten dergelijke films los van het glas of ander anorganisch materiaal waarop ze gehecht zijn. Het doel van het Eindhovense onderzoek was het betrouwbaar kunnen meten van hechting van nikkelfilms op anorganische materialen. Nikkelfilms gehecht op glas zijn te vinden in een breed scala aan displays; van handhelds, organizers, mobieltjes, laptops tot zonnecellen.

Het onderzoek is relevant voor de duurzaamheid van displays zoals die in laptops te vinden zijn.

Levensduur

De lastig te voorspellen levensduur van deze displays is een probleem. De films laten los onder invloed van (atmosferisch) vocht. Dat is slecht te meten, terwijl dat juist nodig is om de levensduur van displays vast te stellen. De onderzoeker maakte een model dat de invloed van vocht op de hechting beschrijft.

Bij het loslaten van de film blijken overigens meer factoren mee te spelen dan alleen vocht. Dos Santos Ferreira analyseerde al deze factoren voor een beter begrip van de hechting. Dit proces is onderzocht met een zogenoemde peel-test, waarbij de film onder gecontroleerde omstandigheden wordt losgetrokken van de ondergrond waarop het aangehecht is.

Testopstelling zoals ontwikkeld door Olavio Dos Santos Ferreira. Bij het onderzoek naar displays wordt daarbij een dunne metallische film van een glazen ondergrond losgetrokken. De opstelling geeft onder andere informatie over de hechtingsparameters. Beeld: TU/e

Loslaattest

Dos Santos Ferreira verbeterde de peel-test op een aantal essentiële aspecten: het loslaatproces kan nu beter gecontroleerd worden, de profielen van de films en de manier waarop de film loskomt zijn goed te zien en er kan met relatief kleine monsters gewerkt worden.

Met het verbeterde instrument kan zuiverder gemeten worden dan voorheen. Bedrijven die aan het onderzoek bijdragen, hebben belangstelling voor het ontwerp en overwegen het op de markt te brengen. Ze houden de vinger aan de pols in het vervolgonderzoek om het instrument te verfijnen. Op termijn leiden de resultaten van dit onderzoek niet alleen tot een betere meettechniek, maar ook tot duurzamere displays.

Dit artikel is een publicatie van Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek (NWO).
© Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek (NWO), alle rechten voorbehouden
Dit artikel publiceerde NEMO Kennislink op 23 maart 2007
NEMO Kennislink nieuwsbrief
Ontvang elke week onze nieuwsbrief met het laatste nieuws uit de wetenschap.